UV-2600i
研究級(jí)的分光光度計(jì)實(shí)現(xiàn)了超低雜散光，擴(kuò)展測(cè)定范圍至8Abs，透過率0.000001%。除了測(cè)定高濃度樣品不需要稀釋外，此系統(tǒng)還能用于評(píng)價(jià)偏振膜的透過率性能。設(shè)計(jì)更緊湊，使用更便捷。硬件確認(rèn)軟件可協(xié)助進(jìn)行裝置性能的檢查，并記錄檢查結(jié)果。之前作為選配的硬件確認(rèn)軟件已標(biāo)配于UV-2600i/2700i主機(jī)，因此在日常檢查或注重?cái)?shù)據(jù)精度時(shí)可容易地進(jìn)行儀器性能檢測(cè)。
該儀器的設(shè)計(jì)改變了行業(yè)的測(cè)量觀念，致力于提供z簡(jiǎn)潔、z靈活與速度快的操作。無需任何額外附件與成本，可以實(shí)現(xiàn)寬角度的的絕對(duì)反射率與絕對(duì)透射率測(cè)量，以及實(shí)現(xiàn)偏振模式測(cè)量，設(shè)計(jì)的分光光度計(jì)包含參考通道，能對(duì)直徑范圍從10mm到120mm的光學(xué)部件進(jìn)行測(cè)量研究?；诠庾V光度逆向工程可以測(cè)量紫外可見近紅外全光譜范圍內(nèi)薄膜材料的折射率n、吸收系數(shù)k與薄膜厚度d，確保了強(qiáng)大的QA/QC分析與研究開發(fā)。
UV-2600i研究級(jí)的分光光度計(jì)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)樣品恒波長同步熒光光譜掃描，恒波長同步掃描可以減少多組分樣品測(cè)量時(shí)的熒光峰重疊現(xiàn)象，窄化光譜，減小散射光的影響，產(chǎn)品性能穩(wěn)定、功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)便，靈敏度、信噪比等主要指標(biāo)均達(dá)到國外同類產(chǎn)品水準(zhǔn)，廣泛應(yīng)用于食品安全檢測(cè)、材料研究、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域，適用于樣品測(cè)試范圍廣，性能指標(biāo)要求高的客戶。
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